G830系列精度高 角度传感器精度为0.02°该设备支持多种测量范围设定，采用集成MEMS技术，功耗低，内置高精度16位A/D转换器，并提供多种输出接口，包括RS232、TTL、RS485、RS422、CAN，以及0-5V、0-10V、4-20mA、0-20mA和0-24mA等可选输出。它利用磁电感应技术、精密轴承、差分阵列磁敏元件以及非接触式轴测量，对安装在轴一端的永磁体的平行磁场强度进行检测，并通过MCU进行处理。为了提高测量精度，该设备还实现了线性校正、温度补偿、自主开发的滤波算法以及具有多种不同斜率设置的可编程智能控制。

G820系列高精度 角度传感器 采用MEMS技术，低功耗；利用磁电感应技术、精密轴承、差分阵列磁传感元件以及轴的非接触式测量，通过MCU检测并处理安装在轴一端的永磁体的平行磁场强度，实现可编程智能控制，包括线性校正、温度补偿、N阶数字滤波算法、零点设定以及多种不同的斜率设定。输出传感器的绝对角度位置测量范围为0-360°，精度为0.05°，输出接口可选RS232、TTL、RS485、CAN，以及0-5V、0.5V、4.5V、0-10V、4-20mA、0-20mA。

G810系列 角度传感器 嵌入式微处理器与CNC弧秒级校准装置相结合，可进行程序校准和转换，实现0.1°高精度测量，并提供多种输出接口：RS232、TTL、RS485、RS422、CAN，以及0-5V、0.5-4.5V、0-10V、4-20mA、0-20mA（可选）。磁角度传感器采用MEMS技术，集成纳米磁聚焦薄膜材料和差分阵列磁敏元件，实现对旋转磁场变化的非接触式感应。该系统集成了微电脑、电压电流变送器和各种保护电路。通过DSP处理，可实现线性校正、温度补偿、根据量程对输出信号进行标准化、数字滤波、零点设定和多段不同斜率设定等功能，并具备可编程智能控制能力。

G803低成本系列磁性 角度传感器 该系统采用MEMS技术，将纳米磁聚焦薄膜材料与差分阵列磁敏元件集成，实现对旋转磁场变化的非接触式感应。系统集成了微处理器（微型计算机）、电流变送器和多种保护电路。通过DSP处理，可实现线性校正、温度补偿、输出信号量程标准化、数字滤波、零点设定以及多段不同斜率设定。程序控制的智能控制功能，可测量用户设定的0°至360°范围内各角度的绝对位置输出。

G802系列磁性角度传感器采用MEMS技术，将纳米磁束薄膜材料与差分阵列磁敏元件集成，实现对磁场变化的非接触式感应。该系统集成了市面上主流的微型计算机及多种保护电路。通过DSP处理，可实现线性度校正、温度补偿、输出信号量程标准化、数字仿真、零点设定以及多级不同斜率设定等功能的智能控制。在360°量程内，用户可设定角度输出绝对位置测量值。

G801-B系列角度传感器采用MEMS技术和磁电感应技术，利用差分阵列磁敏元件对旋转轴进行非接触式测量。它通过检测安装在旋转轴一端的永磁体的平行磁场强度，并经由MCU处理进行线性校正、温度补偿、输出信号标准化数字滤波、零点设定以及可编程智能控制多种不同斜率设置，从而实现0~360°范围内输出传感器的绝对角度位置。精度为0.2°，输出接口可选RS232、RS485、CAN，电压输出可选0-5V、0.5-4.5V、0-10V，电流输出可选4-20mA或0-20mA。

G800-B系列角度传感器采用MEMS技术和磁电感应技术，利用差分阵列磁敏元件对旋转轴进行非接触式测量。它通过检测安装在旋转轴一端的永磁体的平行磁场强度，并经由MCU处理进行线性校正、温度补偿、输出信号标准化数字滤波、零点设定以及可编程智能控制多种不同斜率设置，从而实现0~360°范围内输出传感器的绝对角度位置。精度为0.2°，输出接口可选RS232、RS485、CAN，电压可选0-5V、0.5-4.5V、0-10V，电流可选4-20mA或0-20mA。